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氢脆现象对压力变送器的影响 

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  • 发布时间:2021-04-01 11:46
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氢脆现象对压力变送器的影响 

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氢是自然界最小的原子,本身不具备腐蚀性但是渗透能力极强。由于氢原子的尺寸远远小于金属原子,因此在高温高压 作用下氢气可以解离成氢原子并渗透进入金属材料的晶格点 阵的间隙位置。这一渗透过程主要经历如下步骤:

(1)氢气(H2)与金属材料(M)表面发生碰撞,此时金属材料(M)表面物理吸附微量氢气(H2)形成混合物(H2M),即H2+M→H2M。

(2)混合物(H2M)与金属材料(M)外表面继续应,形成吸附着在金属外表面的氢原子(HadM),这一过程被称为化学吸附过程,并且高温高压的条件可促进化学吸附过程,即H2M +M→2HadM。

(3)当金属材料(M)外表面吸附氢原子(HadM)达到饱和后会逐步溶解扩散,形成渗透在材料内部原子氢(MHad),即HadM→MHad。

(4)环境温度和压力降低后原子氢(MHad)逐步析出,在金属材料(M)内部重组成氢分子(H2),即2HadM→2M+H2。由于氢分子的尺寸远大于氢原子,因此氢分子残留在金属材料内部无法“逃逸”,金属材料内部会出现裂纹导致材料脆化; 这种情况被称为氢脆现象。

压力变送器是一种将压力信号转化成电动信号进行控制 和远传的设备,其核心元件是单晶硅谐振式感器及测量膜盒。压力变送器工作时测量膜盒的测量膜片接触测量介质,通过测量膜片内侧密封灌充的硅油传导液将测量压力传递到微型真空腔体的弹性元件(谐振梁)上,导致弹性元件发生微小形变位移,其位移程度与压力成正比关系。压力变送器通过单晶硅谐振式传感器及微处理器将形变位移程度转变为4~20mA远传电信号,可用于测量介质压力。为了减少传递过程中的压力损耗并防止受到测量介质腐蚀,一般选择采用具有一定弹性和防腐蚀性能的金属薄壁材料(厚度介于40~80μm之间,各设备供货商略有不同)制作成测量膜片,常见的测量膜片材质有316L不锈钢、哈氏合金、钽、钛等诸多类型。由于测量膜片厚度不足0.1mm,常规的压力变送器在恶劣工况(高温高压且存在较高浓度氢气的场合)下极易出现氢脆现象并受到影响,导致测量膜片韧性退化失去弹性,出现空腔鼓包或者裂纹。随着时间推移氢分子甚至可以穿透测量膜片进入隔离硅油传导液, 出现气泡增加了压力传递过程中的损耗,还会直接干扰压力变送器的测量效果,导致压力变送器零点漂移、输出不稳定,出现测量误差令压力测量参数波动,更为严重的情况下甚至损坏仪表造成事故发生。

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