氢气是自然界最小的原子，本身没有腐蚀性，但却具有极强的渗透性。因为氢原子的尺寸比金属原子小得多，所以氢能在高温高压下分解成氢原子，然后渗入金属材料晶格阵列的空隙位置。这种渗透过程主要经过以下几个阶段：
(1)氢(H2)与金属材料(M)表面发生碰撞，导致金属材料(M)表面对痕量氢(H2)的物理吸附形成混合物(H2M)，即H2+M→H2M。
(2)混合物(H2M)继续与金属材料(M)的外部表面相接触，形成一个氢原子(HadM)，它吸附在金属的外部表面上，这个过程称为化学吸附过程，而在高温高压条件下，可以促进化学吸附过程，即H2M+M→2HadM。
(3)金属材料(M)外表面对氢原子的吸附达到饱和时，就会逐渐溶解扩散，形成渗透到材料内原子氢的现象，即HadM→MHad。
(4)环境温度和压力降低后，原子氢(MHad)逐渐析出，在金属材料中(M)内重组成氢分子(H2)，即2HadM→2M+H2。因为氢分子比氢原子大得多，所以氢分子留在金属材料内部不能“逃逸”，金属材料内部会出现裂纹，造成材料脆性，这种情况就是所谓的氢脆现象。
该压力传感器是将压力信号转换为电信号进行控制和远传的装置，核心元件为单晶硅谐振感应器和测量膜盒。测压仪工作时，测压膜盒与测压膜接触，测压膜通过测压膜内侧密封处灌充的硅油传导液，将测压膜传至微真空腔内的弹性元件(谐振梁)，造成弹性元件发生微小的变形，其变形程度与压力成正比。通过单晶硅谐振传感器和单片机，压力变送器将形变位移程度转换为4~20毫安的远传电流信号，从而实现介质压力的测量。为降低传递过程中的压力损失，防止被测量介质的腐蚀，一般选用具有一定弹性和抗腐蚀性能的金属薄壁材料(厚度在40~80μm之间，各设备供应商略有不同)制成测量膜片，常用的测量膜片材质有不锈钢316L、哈氏合金、钽、钛等多种材质。因膜片厚度测量不到0.1mm，常规的压力变送器在恶劣的工作环境(高温高压、高浓度氢气存在)下极易发生氢脆现象并受影响，造成膜片韧性退化，失去弹性，出现空腔鼓包或裂纹。随时间推移，氢分子甚至可以穿透测量膜进入隔离硅油传导液中，出现气泡，增加压力传递过程中的损耗，也会直接影响压力变送器的测量效果，造成压力变送器零点漂移，输出不稳定，测量误差使压力测量参数产生波动，更严重的情况下，甚至损坏仪表，造成事故。